一類(lèi)是范圍較小但危害較大的集中性缺陷。例如制造裝配過(guò)程中的機(jī)械損傷、局部擠壓、瓷質(zhì)開(kāi)裂、內(nèi)含氣泡等原因引起的局部損壞。這類(lèi)缺陷的絕緣劣點(diǎn)在高電壓、強(qiáng)電場(chǎng)作用下，其缺陷范圍很容易擴(kuò)大，往往是造成設(shè)備絕緣事故的主要因患。
另一類(lèi)是范圍較廣的分布性缺陷。例如由于密封不好而導(dǎo)致的絕緣全面受潮、污染或長(zhǎng)期運(yùn)行中，在強(qiáng)電場(chǎng)和高溫作用下，介質(zhì)老化，使整體絕緣性能下降、絕緣電阻減小、損耗增大、發(fā)熱嚴(yán)重、進(jìn)一步加速老化、縮短設(shè)備絕緣壽命等。
對(duì)電氣設(shè)備的絕緣試驗(yàn)項(xiàng)目是如何分類(lèi)的?
對(duì)電氣設(shè)備絕緣定期進(jìn)行試驗(yàn)，能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)絕緣隱患，并加以處理，是避免電氣設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中發(fā)生重大事故、保證設(shè)備正常運(yùn)行的有效措施。絕緣試驗(yàn)項(xiàng)目可以分成兩大類(lèi)。
一類(lèi)是非破壞性試驗(yàn)。這種試驗(yàn)電壓較低，對(duì)設(shè)備絕緣不會(huì)構(gòu)成危害，簡(jiǎn)單易行。通過(guò)測(cè)量絕緣的有關(guān)參量，判斷其絕緣狀況，常做的非破壞性試驗(yàn)有絕緣電阻和吸收比測(cè)量、直流泄漏電流的測(cè)量、介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)量、絕緣子串電壓分布的測(cè)量等。
